Jiao, Guangfan: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (10)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Reliability of High-Mobility InGaAs Channel n-MOSFETs Under BTI Stress

Li, Ming-Fu, Jiao, Guangfan, Hu, Yaodong, Xuan, Yi, Huang, Daming, Ye, Peide D.

Журнал:

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.41 MB

english, 2013

2

[IEEE 2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Monterey, CA, USA (2017.4.2-2017.4.6)] 2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Investigation of hot carrier degradation in bulk FinFET

Chung, Eun-Ae, Nam, Kab-Jin, Nakanishi, Toshiro, Park, Sungil, Yang, Hongseon, Kauerauf, Thomas, Jiao, Guangfan, Kim, Dong-won, Hwang, Ki Hyun, Kim, Hyejin, Lee, Hyunwoo, Pae, Sangwoo

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 649 KB

english, 2017

3

Experimental Investigation of Border Trap Generation in InGaAs nMOSFETs With Gate Dielectric Under PBTI Stress

Guangfan Jiao, Chengjun Yao, Yi Xuan, Daming Huang, Ye, P.D., Ming-Fu Li

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 247 KB

english, 2012

4

Extraction of Channel Electron Effective Mobility in InGaAs/Al $_{\bf 2}$O$_{\bf 3}$ n-FinFETs

Hu, Yaodong, Li, Shengwei, Jiao, Guangfan, Wu, Y. Q., Huang, Daming, Ye, Peide D., Li, Ming-Fu

Журнал:

IEEE Transactions on Nanotechnology

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 397 KB

english, 2013

5

[IEEE 2012 IEEE 11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT) - Xian, China (2012.10.29-2012.11.1)] 2012 IEEE 11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology - Reliability of inversion channel InGaAs n-MOSFETs

Li, Ming-Fu, Jiao, Guangfan, Xuan, Yi, Huang, Daming, Ye, Peide D.

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 368 KB

english, 2012

6

Diagram representations of charge pumping processes in CMOS transistors

Xinyun, Huang, Guangfan, Jiao, Chen, Shen, Wei, Cao, Darning, Huang, Mingfu, Li

Журнал:

Journal of Semiconductors

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 135 KB

english, 2010

7

PBTI-Induced Random Timing Jitter in Circuit-Speed Random Logic

Lu, Jiwu, Jiao, Guangfan, Vaz, Canute, Campbell, Jason Paul, Ryan, Jason Thomas, Cheung, Kin P., Bersuker, Gennadi, Young, Chadwin

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.24 MB

english, 2014

8

[IEEE 2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - San Francisco, CA, USA (2016.12.3-2016.12.7)] 2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - Acceptor-like trap effect on negative-bias temperature instability (NBTI) of SiGe pMOSFETs on SRB

Jiao, Guangfan, Toledano-Luque, Maria, Nam, Kab-Jin, Toshiro, Nakanishi, Lee, Seung-Hun, Kim, Jin-Soak, Kauerauf, Thomas, Chung, EunAe, Bae, Dong-il, Bae, Geumjong, Kim, Dong-Won, Hwang, Kihyun

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 509 KB

english, 2016

9

[IEEE 2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Monterey, CA, USA (2017.4.2-2017.4.6)] 2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Hole trap effect on time-dependent-dielectric breakdown (TDDB) of high-voltage peripheral nMOSFETs in flash memory application

Jiao, Guangfan, Baek, Sungkweon, Nam, Kab-jin, Chang, Sung-Il, Cho, Siyeon, Kauerauf, Thomas, Lee, Chanho, Han, Seung-Uk, Kim, Jin-Soak, Chung, Eun-Ae, Shin, Yoo-Cheol, Lim, Junhee, Shin, Yu-Gyun, Hwa

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.38 MB

english, 2017

10

Network pharmacology study on the active components of Pterocypsela elata and the mechanism of their effect against cerebral ischemia

Niu, Bingxuan, Zhang, Hui, Li, Chunyan, Yan, Fulin, Song, Yu, Hai, Guangfan, Jiao, Yunjuan, Feng, Yansheng

Журнал:

Drug Design Development and Therapy

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.77 MB

english, 2019